EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， E4'D4@\W  
AOaf,ZF 8  
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， wzMWuA4vX  
:l>T~&/98  
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 NB&u^8b  
b+M[DwPw  
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 ^IGTGY]s  
nWK"i\2#G  
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 >gr6H1  
(t9qwSS8z  
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. | ~G;M*q  
~^"cq S(  
1.多层厚度（1? 到 250 microns） [<sBnHbvQ.  
2.折射率n Ac.z6]p  
3.吸收系数k XY|-qd}A  
4.双折射率 'eo2a&S2D  
5.能隙（Eg） g-%uw[pf  
6.表面粗糙度和损伤 7q|(ZZa  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） -c=IO(B/  
8.薄膜温度特性 yg2~qa:dZ  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 d~|qx  
m`
9)DsR N  
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 |l ~BdP  
.#h]_%  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： |U^ ff^]  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 S&]:=
He  
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com d<6L&8)<  
网址：http://www.emdeccn.com