SPTS薄膜热吸收测试仪

发布:zwhharvey 2010-03-16 10:05 阅读:3068
SPTS薄膜热吸收测试仪    P5{|U"Y_  
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美国SPTS公司的光热共路干涉仪是源于斯坦福大学研究项目的产品,用于测试晶体材料和薄膜的弱热吸收系数,对样品的表面散射不敏感,泵浦激光波长可以在190-1800nm,灵敏度可达10-7。适合于非线性激光晶体的测试,比如KTP、BBO、铌酸锂等;对薄膜可以进行透过、反射的测试。弱吸收仪除了以上应用外,还可以用于薄膜质量的检测,并用于控制和改善镀膜工艺工程。 i&KD)&9b#  
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从这个网站上可以看到详细资料 http://www.opturn.com/cn/list.asp?id=114
关键词: 薄膜晶体
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