《现行
光学元件检测与国际
标准》重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章,主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求;计量概念与误差及精度的必要知识;光学元件检测基础;光学元件的
参数检测和性能检测的现行技术,侧重对特殊元件、光学表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等内容的叙述;介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助
资料。《现行光学元件检测与国际标准》附录汇总了光学检测中4个常用的资料及相关的参考书籍。
kJ)gP 2E 《现行光学元件检测与国际标准》可供从事光学、光学工程(尤其光学制造技术与检验)的科技人员与工艺技术人员参考,也可供大专院校有关专业的师生阅读。
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vs&8wbS) &GWkq> 现行光学元件检测与国际标准目录
<1~^C 序
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K}u 前言
_2vd`k 第1章 概论光学元件的现代发展及其对光学检测的需求
~9$X3.+ 1.1 现代光学检测的重要性
1QJBb \ 1.1.1 光学元件检测的重要性
qI3NkVA'C 1.1.2 光学元件检测仪器与技术现状
p D=w>" 1.2 现代光学元件制造发展的特点
z"F*\xa 1.2.1 以多功能、精密化为特点的大型化甚至巨型化光学工程和仪器牵引着现代光学制造业的发展
g\M5:Qm 1.2.2 以大批量化、产业化为特征的小型和超小型化的光学元件及大型和超大型化的光学元件需求量猛增
99iUOw c 1.2.3 以多样化、高精度为特点的各种光学元件对光学制造与检测提出了全新的要求
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