EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， \<Di|X1  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， jWcfQ  
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 BT*{&'\/  
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1)    Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 uQO\vRh0  
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 R7 ^f|/l  
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2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. QW= X#yrDO  
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1.多层厚度（1Å 到 250 microns） (Ky$(Ubb#6  
2.折射率n >\'gIIs  
3.吸收系数k z4wG]]Kh*  
4.双折射率 A1F!I4p5  
5.能隙（Eg） !;M5.Y1j&"  
6.表面粗糙度和损伤 6
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7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） b0uWUI(=  
8.薄膜温度特性 WuMr";2*E  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 I;+>@Cn(g<  
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 ; ~#uH7k  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： !n|4w$t"V  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 ".sRi  
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