上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 opz.kP[e,  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 a{lDHk`Wf  
网址:www.sci-soft.com b&$ ?.z  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. hIj[#M&6  
A)    薄膜测量/测试 软件 +s6wF{  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) vT<q zN  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 )shzJ9G  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) mx#H+:}&r  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ,w.`(?I/  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 h(,SAY_  
Ozk^B{{o  
B) 薄膜测量 仪器 Yx_[vLm  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ K_V44f1f  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ WgdL^PN(h  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b o7feH 6Sh  
Standard Spectral Range标准光谱范围F \/jr0):  
Reflection反射测量, v
+Vpak9|  
Transmission透射测量5wIBS\ >G2o  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY G"jKYW  
Power Spectral Density功率谱密度测量a ^4LkKYMS  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y ]JX0:'x^  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] ?Z@FxW  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% {~yj]+Im  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F Kp*nOZ  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n d7A08l{  
Composition成分测量c*'nh) 4C(vBKl  
Crystallinity晶状测量DTE; A>6b 6  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF i0uBb%GMT  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ^R.#n[-r2  
etc. 等等 3,j)PKf ;  
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Typical  applications典型应用:P @18"o"c7j  
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OLED有机发光二级管薄膜 8<$6ufvOv  
Flat panel display平板显示器薄膜 Fzk  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 9?r|Y@xh]  
Computer disks计算机磁盘薄膜 w,NK]<dU@  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 pN<wO1\9  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 e-4XNL[
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Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 yhe$A<Rl=  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` xm>RLx}9  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 XG"&\FL{T  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC b r)oSw  
etc. 等等 . m_y5J  
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