上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 aa0`y  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 IzGB  
网址:www.sci-soft.com <jRFN&"h}  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. 3b?OW7H  
A)    薄膜测量/测试 软件 Mi/ &$"=  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) kToVBU$  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 g<rKV+$6  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) `Ge+(1x  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) )p!*c,  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 [C+Gmu  
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B) 薄膜测量 仪器 y3KcM#[  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ $['7vcB^  
mP)3cc5T  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ KCJN<  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b |,1bkJt  
Standard Spectral Range标准光谱范围F S}m$,<x  
Reflection反射测量, 2-$bh  
Transmission透射测量5wIBS\ W<rTq0~$?  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY (!0j4'  
Power Spectral Density功率谱密度测量a Tbi]oB#  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y CCW%G,$U9  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 0j{F^rph  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% sw41wj  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F &
$b\=  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 0~Iu7mPY  
Composition成分测量c*'nh) ]<8B-D?Z  
Crystallinity晶状测量DTE; uEScAeQXsI  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF 83 i1  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" (@KoqwVWc  
etc. 等等 %_b^!FR  
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Typical  applications典型应用:P lJ:M^.Em0  
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OLED有机发光二级管薄膜 *?^Z)C>  
Flat panel display平板显示器薄膜 3C rQBIj1  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 Wa[x`:cT?u  
Computer disks计算机磁盘薄膜 S]e j=6SP  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 +9CEC1-l  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 B]^>GH  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 4?>18%7&  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` UT
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Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 6%g
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Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC :M22P`:  
etc. 等等 ~|CJsD/  
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