上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 oN83`Z  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 @VND}{j  
网址:www.sci-soft.com m-[xrVV  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. '&|%^9O/"  
A)    薄膜测量/测试 软件 Rc@lGq9  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) f/kYm\Zc  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 .ezko\nU  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) u3 +]3!BQ  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 0|hOoO]?q&  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 $Zi{1w  
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B) 薄膜测量 仪器 IAmMO[9H  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ !t)uRJ   
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ fA V.Mj-  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b EN>a^B+!  
Standard Spectral Range标准光谱范围F su60j^e*  
Reflection反射测量, *|+$7j  
Transmission透射测量5wIBS\ a[=B?Bd  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY Vn
^8nS  
Power Spectral Density功率谱密度测量a 0!c/4^  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y VzM (u_)  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] ~2NTXp  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% B(wi+;  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F pX
NH  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n ZTGsZ}{5  
Composition成分测量c*'nh) UBuG12U4Y  
Crystallinity晶状测量DTE; MqWM!v-M  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF : T4ap_Ycq  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" FGo)]U  
etc. 等等 wC<FF2T  
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Typical  applications典型应用:P *z'Rl'j9[  
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OLED有机发光二级管薄膜 7pH[_]1"  
Flat panel display平板显示器薄膜 q~\[P4m  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 LKud'  
Computer disks计算机磁盘薄膜 "+&@iL  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 p:!FB8  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 4 $)}d  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 %CrpUx  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` &9n=!S'Md  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 n>lQ:l~  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC h5; +5B}D  
etc. 等等 /5XdZu6k`h  
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