上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 !%c'$f/  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 8
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. a<@N-Exr  
A)    薄膜测量/测试 软件 {c (!;U  
uV=Qp1~  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) n/h,Lr)Z  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 SCz(5[
MZJ  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) ca>Z7qT!  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) D_x+
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FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 ;s52{>&F]  
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B) 薄膜测量 仪器 N&M~0iw  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ .B\5OI,]  
K3=3~uY  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ e/^=U7:io  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b AhNq/?Q Q~  
Standard Spectral Range标准光谱范围F Hbpqyl%O>  
Reflection反射测量, v.]Q$q^  
Transmission透射测量5wIBS\ 0$-xw  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY W>O~-2  
Power Spectral Density功率谱密度测量a #H0dZ.$b0  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y k70|'*Kh  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] >Bgw}PI  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% J2^'Xj_V  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F 3}/&w\$  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n q#8[  
Composition成分测量c*'nh) 0D&t!$Ibf  
Crystallinity晶状测量DTE; ~}+Hgi  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF Dre]AsgiV  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" Iyyh!MVF  
etc. 等等 3:C o
Z  
p1|f<SF')  
Typical  applications典型应用:P (x3.poSt  
-*XCxU'  
OLED有机发光二级管薄膜 <^lRUw  
Flat panel display平板显示器薄膜 sxt-Vs7+6  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ka3u&3"  
Computer disks计算机磁盘薄膜 B|&"#Q  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 /IM#.v  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 X0n~-m"m  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 `3hSLR  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` W]5USFan  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 y8rm  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC 8f3vjK'  
etc. 等等 YxP@!U9dE,  
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