上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 4V<s"  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 ZIpL4y =_  
网址:www.sci-soft.com #XC\=pZX  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. 4Hk
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A)    薄膜测量/测试 软件 sl/#1B  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) bnUd !/;  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 ?L{[84GSO  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) u]"oGJj1  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) MH!'g7iK8  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 mjS)*@F  
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B) 薄膜测量 仪器 $Wb"X=}tl  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ i(L;1 `  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ p~+)!Z#  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b X`^9a5<"  
Standard Spectral Range标准光谱范围F V><5
N;w  
Reflection反射测量, A*MlK"  
Transmission透射测量5wIBS\ !*+~R2&b
 
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 'iUfr@  
Power Spectral Density功率谱密度测量a j"J2&Y2  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y *4]I#N  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 9s5CqB  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% EiIbp4*e  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F y=5s~7]  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 4J-)+C/edx  
Composition成分测量c*'nh) _YO`x  
Crystallinity晶状测量DTE; X#gZgz ='  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF 8cR4@Hqx  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" 6D3fkvcZ  
etc. 等等 f}eZX  
[S-NGip  
Typical  applications典型应用:P $&k zix  
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OLED有机发光二级管薄膜 9(ANh
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Flat panel display平板显示器薄膜 \W}?4kz  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 Fgt/A#`fz  
Computer disks计算机磁盘薄膜 2/qfK+a  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 F}2U8O  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 4N*Fq!k~  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 D8BK/E-  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` |UBR8  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 )bw^!w)  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC yhgHwES"  
etc. 等等 9IC"p<D  
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