上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 e$ E=n  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 sLb[ZQ;j  
网址:www.sci-soft.com g7#_a6  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. L<5go\!bV  
A)    薄膜测量/测试 软件 F71.%p7C8"  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ln#Lx&r;|  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 !)KX?i[Q  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) ?zKDPBj  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ^BSMlKyB  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 L@9"6&  
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B) 薄膜测量 仪器 B4_0+K H  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ 8BC}D+q  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ \*1pFX#  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b G)iV  
Standard Spectral Range标准光谱范围F Q_qc_IcM y  
Reflection反射测量, -i7W|X"  
Transmission透射测量5wIBS\ ^~8l|d_  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY @R(6w{h9  
Power Spectral Density功率谱密度测量a Sh}AGNE'  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y T'0Ot
3m`  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] s3Y \,9\  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% !$f@j6.  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F $yHlkd`Y  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n YjoN:z`b  
Composition成分测量c*'nh) jo0p/5;  
Crystallinity晶状测量DTE; 'l!tQD!  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF 3QZw  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" Dm"GCV  
etc. 等等 Hq< Vk.Nk  
2Cj?k.Zk  
Typical  applications典型应用:P b:WlB[5  
00n6v;X  
OLED有机发光二级管薄膜 )9l5gZX'I  
Flat panel display平板显示器薄膜 sGc4^Z%l?  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 j^ex5A.& &  
Computer disks计算机磁盘薄膜 /0\m;&  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 1j9.Q;9  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 v.c2(w/P  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 }q)oLC  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` km4::'(6  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 `` 6?;Y  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC Nq"/:3@4  
etc. 等等 Cj31'
 
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电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 U8\[8~Xftn  
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