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    [求助]光学表面检测的理论依据 [复制链接]

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    离线易水河
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2007-08-25
    各位大侠： jDR')ascn  
        在光学冷加工车间来判断光学表面是否符合要求，一般采用挤压法来判断。 hjkLVL  
        在有些书中用平面干涉仪来判断。见附件图示。请问，这种根据干涉条纹的形状判断待测面是凸还是凹有什么理论依据？ z. 'Fv7  
        谢谢！
    附件: 利用平面检测仪检测光学表面.rar (9 K) 下载次数:322
     
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    离线zcg_hit
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    只看该作者 1楼 发表于: 2007-08-28
    大力支持大力支持
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    离线marker
    助理工程师
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    只看该作者 2楼 发表于: 2007-08-28
    大力支持大力支持，谢谢分享拉
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    离线lblovegf
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    只看该作者 3楼 发表于: 2007-09-20
    大力支持大力支持，谢谢分享拉
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    离线一休
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    只看该作者 4楼 发表于: 2007-10-29
    好好看看物理光学中的 干涉原理啊、、、
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    离线tianya9699
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    只看该作者 5楼 发表于: 2007-11-05
    干涉就是这样形成的。
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    离线leeyan
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    只看该作者 6楼 发表于: 2007-11-28
    就是看高低光圈嘛
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    离线ddm
    助理工程师
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    只看该作者 7楼 发表于: 2007-11-28
    这个纯粹是干涉原理 , 与待测物是凹是凸 , 并没有差异 .
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    离线anttyzhou
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    只看该作者 8楼 发表于: 2007-11-28
    光线照射到B面上时,由于是凹面,光程长,为了等光程,只有向d0较小的方向偏移.因此展现出了上图的弯曲. k XrlSaIc  
    同理,如果B面是凸面,光程短,为了等光程,只有向d0较大的方向偏移.因此展现出了(b)图的条纹
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    离线xiaonaigao
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    只看该作者 9楼 发表于: 2008-01-19
    看看先
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