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    [求助]光学表面检测的理论依据 [复制链接]

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    离线易水河
    实习生
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2007-08-25
    各位大侠： KN".0WU  
        在光学冷加工车间来判断光学表面是否符合要求，一般采用挤压法来判断。  mT,#"k8  
        在有些书中用平面干涉仪来判断。见附件图示。请问，这种根据干涉条纹的形状判断待测面是凸还是凹有什么理论依据？ JzmX~|=Xi  
        谢谢！
    附件: 利用平面检测仪检测光学表面.rar (9 K) 下载次数:326
     
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    离线无我如是
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    只看该作者 25楼 发表于: 2012-12-14
    是光的干涉造成的。
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    离线jrwqz
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    只看该作者 24楼 发表于: 2011-01-08
    先顶下，鼓励鼓励
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    离线jurry
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    只看该作者 23楼 发表于: 2010-12-02
    支持理论
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    离线sunm
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    只看该作者 22楼 发表于: 2009-04-10
    谢谢了
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    离线chuangming
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    只看该作者 21楼 发表于: 2009-02-10
    很好很好！！！
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    离线beckh
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    只看该作者 20楼 发表于: 2009-01-19
    8L分析的蛮好嘛, 6eb~Z6n&?  
    干涉所形成的明暗相间的条纹, CW -[c  
    这是两束同频率光到达某点时, B7PdavO#  
    其间有光程差, +v< \l=  
    使光强有消弱(暗)或者增强(明)效果.
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    离线beckh
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    只看该作者 19楼 发表于: 2009-01-14
    呵呵, B +MnT{  
    应用光学就有讲过, <==6fc>s  
    感谢LZ的普及撒~
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    离线翔羽子
    技术员
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    只看该作者 18楼 发表于: 2008-10-11
    七楼正解
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    离线sunrise85
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    只看该作者 17楼 发表于: 2008-09-25
    不知楼主在那家光学厂，太落后了。赶紧跳槽吧
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