切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 15阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7266
    光币
    30471
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2小时前
    摘要 f^@D uI  
    7\EY&KI"0  
    k\}\>&Zqu  
    ]+@I] \S4  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 $5J~4B"%3  
    hta y-  
    建模任务 n]v,cfn/=<  
    ~)]R  
    Qjd<%!]+\  
    UR DXyAt  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 > ZKHjw  
    FYX" q-Z  
    fwz-)?   
    Ag0)> PD^  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 {7LNQGiJ  
    ,g{Ob{qT  
    #0 eop>O  
    U6LENY+Ja  
    文件信息 0z`-fQfK  
    NrWgaPO)i  
    i5Dq'wp  
    9"b  =W@  
     
    分享到