-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-10-13
- 在线时间1986小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 f^@DuI 7\EY&KI"0
k\}\>&Zqu ]+@I]\S4 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 $5J~4B"%3 hta y- 建模任务 n]v,cfn/=< ~)]R
Qjd<%!]+\ URDXyAt 由于组件倾斜引起的干涉条纹 >
ZKHjw FYX"q-Z
fwz-)?
Ag0)> PD^ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 {7LNQGiJ ,g{Ob{qT
#0 eop>O U6LENY+Ja 文件信息 0z`-fQfK NrWgaPO)i
i5Dq'wp 9"b =W@
|