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    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    摘要 Dwwh;B  
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    r)h+pga5^E  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Fet>KacTht  
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    建模任务 6B|IbQ^  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 lgre@M]mg  
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    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 M-0BQs`N  
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    文件信息 iv3NmkP1  
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     8+ Hho@=  
    *`mwm:4  
     
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