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摘要 (8s]2\/Ar N(?yOB4gt
GLb}_-| N0c+V["s 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 fB5Bh;K D PnKr/ 建模任务 s,^?|Eo;0 `hM:U
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9xf&r 由于组件倾斜引起的干涉条纹 8w|j Z@ I}Z[F,}*J
Z*kGWL \n850PS 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 #VC^><)3 Do(7LidC5
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DR9M8E 文件信息 8\8uXOS l)z15e5X
K0]'v>AWr r2.87
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