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摘要 V^WR(Q} UW*[)y w] 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 NWuS/Ur`9 :4PK4D s7
j()<.h;' 't:|>;Wx 建模任务 ,c#=qb8"" .olDmFQD @sRUl
,M;Z lV/-jkR 元件倾斜引起的干涉条纹 h\ema| @bQf =N+
A\9QgM 8|uFW7Q 元件移动引起的干涉条纹 )54;YK #;?j]npg]
Mj2o>N2, p}%T`e=Z9 走进VirtulLab Fusion $IzhaX \*Roa&<!
]p/f@j?LU g/&`NlD VirtualLab Fusion工作流程 n$n)!XL/ L|Zja* −基本源模型[教程视频] SnsOuC5Ah
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] )#
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