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摘要 9q(*'rAm eX;C.[&7;8 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。
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$9)| cO W{B)c?G] 建模任务 &==X.2XW )2~Iqzc4 ,'N8Ivt =8#$'1K,v 元件倾斜引起的干涉条纹 {a;my"ly ?VaWOwWI
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- −LPD II:位置和方向[教程视频]
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− 非序列追迹的通道设置[用户案例] |:Q`9; W{'RR.
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