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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-18
    摘要 x';u CKWV  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 nk@atK,38^  
    GyC)EFd  
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    1. 案例 p>kq+mP2bc  
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      o"+ i&Wp~  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 vg\/DbI'  
     #R5U   
    1. 系统构建模块 {IM! Wb  
    1oY^]OD]W  
     T>d.#  
    (! KG)!  
    2. 组件连接器 1ThqqB  
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    }iww:H-1  
          #kcSQ'  
    几何光学仿真 ZFxLBb:  
     ,sQ93(Vo  
    以光线追迹 uA~slS Z  
     K4 %/!`  
    1. 结果：光线追迹 Poy^RpnX  
    &m'kI  
    =/9^, 6Q(  
          @,OT/egF4:  
    快速物理光学仿真 HuI`#.MpWE  
     w1^QD^KnH  
    以场追迹 -Zc![cAlO  
     !m y8AWO'  
    1. NA=1.4时的光栅成像 d8x%SQ!V  
    'Pd(\$ZY  
     Gi?_ujZR  
    #I0pYA2m  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 iEHh{H(  
       @wN G  
    lj[, |[X7`  
    Gt-UJ-RR y  
    3. NA=0.5时的光栅成像 &t}?2>:  
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    文件信息 1=)r@X/6d  
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