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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 6小时前
    摘要 <lFY7' aY  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 j.c8}r&  
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    1. 案例 6 nGY^  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 >riq98Us/  
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    1. 系统构建模块 +0#JnqH"  
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    2. 组件连接器 ^L O]Z  
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    几何光学仿真 Yk>8g;<  
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    以光线追迹 QAaF@Do  
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    1. 结果：光线追迹 ^]rxhpS  
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    快速物理光学仿真 a @SUi~+3  
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    以场追迹 rsSue_Q  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 (n=Aa;  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 j#o3  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 "w^Nu6  
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    文件信息 {jG.=}/Dk  
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