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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-18
    摘要 L.2!Q3&  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 WeZ?L|&%w0  
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    1. 案例 C <Pd_&  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 nT :n>ja  
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    1. 系统构建模块 w?V;ItcL  
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    2. 组件连接器 t|P+^SL  
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    几何光学仿真 +2+|zXmT  
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    以光线追迹 J@A^k1B  
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    1. 结果：光线追迹 6zIK%<  
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    快速物理光学仿真 WC Y5F  
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    以场追迹 !5 ?<QKOe  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 r{{5@  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 P~84#5R1  
       d*x&Uh[K  
    YJ+l \Wb}  
    r6&+pSA>  
    3. NA=0.5时的光栅成像 WDI3*  
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    M?5voV*  
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    文件信息 Yfx?3  
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