切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 95阅读
    • 0回复

    [技术]基础Mirau干涉仪的仿真 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6922
    光币
    28760
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-25
    摘要 _4z>I/R>Z  
    #gOITXKs  
    如何在 VirtualLab Fusion 中设置 Mirau 干涉仪? 本用例通过非顺序通道配置和基本功能仿真演示了建模过程,并评估了来自不同测试表面位置的典型离焦条纹。 %Gn(b 1X  
    3\FiQ/?  
    ?-O(EY1E  
    ZYBNS~Q  
    任务描述:Mirau 干涉仪示意图 1$fA9u$  
    :yvUHx  
    5|:=#Ql*  
    $Q|66/S^  
    系统构建模块和光路 ]"^GRFK5  
    r]'AdJFt  
    =o=)EU{~  
    o([+Pp  
    普通 Mirau 干涉仪的基本组成部分是显微镜物镜、参考面(反射镜)、半透明光学元件(分束器)和实际测试对象。 uJG^>B?`b  
    光源探测器有两条主要路径: Zx<s-J4o=w  
    1. 一束光束通过分束器,然后被测试表面反射并一路返回探测器。 ;W#G<M&n'  
    2. 另一束光束被分束器反射,聚焦在参考表面上,在此被镜像,再次被分束器反射,然后通过显微镜物镜返回到探测器。 oZ%t!Fl1  
    通过使用手动通道配置模式,无需依次设置这两个光路(这也可以在一个光学设置中实现)。 xYM! mcA  
    mxjY-Kq  
    理想化和通道控制 n$}c+1   
    E/_=0t  
    仿真的好处是可以专注于系统相关的部分并可以减少其他任意影响。 Ssaf RK$  
    p`{9kH1me  
    1. 显微镜物镜是用理想透镜仿真的。 BZsw(l4/0'  
    2. 对于半透明板(分束器),是一个平面平行板由熔融石英在其第一表面上使用 15.5 nm 银涂层制作的。 }mz4 3Sq<  
    为了忽略第二个表面上的背反射,我们使用 VirtualLab的手动通道配置来关闭这些光部分。 这样就不需要对减反射 (AR) 涂层进行单独建模。 6R@ v>}  
    3. 实际上,小参考面附在透明板上。 在这里,我们只需为“飘浮的”理想平面镜建模。 q{c6DCc]\  
    4. 对于全部场追迹仿真,使用了Modeling Level 1,因此忽略了理想平面波截断的衍射效应。 a+*|P  
    =Ze~6vS,  
    T:wd3^.CG  
    9n!3yZVSe  
    半透明板(分束器)设置 Kd;|Z  
    Q=~e|  
    sBF>a|  
    P 2;j>=W  
    通常,具有不同反射率值的部分透明板用于分束,因为能量分裂越平衡,干涉条纹的对比度就越好。 ~z>2`^Z"  
    SL:o.g(>4  
    系统构建模块 – 光路 #1 2hf]XV\  
    )0PUK9  
    nb22b Xt  
    I2|iqbX40Q  
    光穿过半透明板 hig^ovF  
    • 测试表面位于物镜的焦点区域。 Pp3tEZfE  
    • 通道+/+ 和-/- 对半透明板的两个表面都是开放的,以允许来自光源的光和从测试表面反射的光通过。 ^fS~va  
    MsX`TOyO!  
    ]=q?= %H  
    sh}=#eb  
    系统构建模块 – 光路 #2 PWLMux  
     V '^s5  
    5Z6$90!k  
    z7{b>oub('  
    半透明板反射的光 b)$<aFl  
    • 对于分束器的反射光路, &{y- }[~  
    +/- 通道必须被激活。 kHX- AsRc  
    bbiDY  
    GIo&zPx  
    hV'JTU]H  
    系统构建模块 - 测试和参考表面 GR O[&;d`  
    6!Ji-'\"  
    '!{zO" 1*  
    -UPdgZ_Vxz  
    • 在这个仿真中,参考和测试表面是 69r<Z  
    以理想镜子为模型。 398}a!XM  
    (这就是为什么半透明板的最佳分光比是 50:50,这在 15.5 nm 银涂层的情况下大约可以实现。) hXbb+j  
     5ah]E  
    • 将真实样品放置在测试表面上,通过沿轴向扫描 Mirau 干涉仪,可以使用不同的干涉图案来计算高度。 *"O7ml]  
    bNY_V;7Kw`  
    • 参考表面的尺寸应该足够小以避免中心遮挡,但要大于焦点的尺寸。 yWF DGk  
    GJ ZT~  
    仿真结果 - 干涉条纹 <d$|~qS_  
    =|pQA~UU#  
    id&;  
    ~naL1o_FZ  
    • Mirau 干涉仪三个不同位置的边缘如下图所示。 Mh[;E'C6  
    • 干涉条纹受测试表面离焦多远的影响。较大的散焦值会在测试路径中引入更强的球面相位变化,从而导致更密集的干涉条纹。 W84JB3p  
    [=7|LH jU  
    =4m?RPb~b  
    )@\= pE.H  
    文件信息 & 2>W=h  
    2^Q)~sSf9  
    \@GA;~x.b  
     
    分享到