切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 418阅读
    • 0回复

    [技术]基础Mirau干涉仪的仿真 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7172
    光币
    30001
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-25
    摘要 xZc].l6  
    s%OPoRE  
    如何在 VirtualLab Fusion 中设置 Mirau 干涉仪? 本用例通过非顺序通道配置和基本功能仿真演示了建模过程,并评估了来自不同测试表面位置的典型离焦条纹。 lHI ;fR  
    A^3M~  
    2M`:/shq  
    p~bx  
    任务描述:Mirau 干涉仪示意图 0<4Nf]i  
    "MX9h }7  
    E/5/5'gBJO  
    ]ur_G`B  
    系统构建模块和光路 [19QpK WM  
    Eb.k:8?Tn  
    aFf(m-  
    q37d:Hp  
    普通 Mirau 干涉仪的基本组成部分是显微镜物镜、参考面(反射镜)、半透明光学元件(分束器)和实际测试对象。 6aq=h`Y  
    光源探测器有两条主要路径: u,&[I^WK`C  
    1. 一束光束通过分束器,然后被测试表面反射并一路返回探测器。 (_.0g}2  
    2. 另一束光束被分束器反射,聚焦在参考表面上,在此被镜像,再次被分束器反射,然后通过显微镜物镜返回到探测器。 ,2MLYW,  
    通过使用手动通道配置模式,无需依次设置这两个光路(这也可以在一个光学设置中实现)。 X1Vj"4'wT  
    vDit&Lh{T  
    理想化和通道控制 vOV$Hle  
    !QXPn}q^0  
    仿真的好处是可以专注于系统相关的部分并可以减少其他任意影响。 )wdTs>W7  
    W9M~2< L  
    1. 显微镜物镜是用理想透镜仿真的。 8{)j"rghah  
    2. 对于半透明板(分束器),是一个平面平行板由熔融石英在其第一表面上使用 15.5 nm 银涂层制作的。 v3I-i|L<)  
    为了忽略第二个表面上的背反射,我们使用 VirtualLab的手动通道配置来关闭这些光部分。 这样就不需要对减反射 (AR) 涂层进行单独建模。 X :wfmb  
    3. 实际上,小参考面附在透明板上。 在这里,我们只需为“飘浮的”理想平面镜建模。 |g1~-  
    4. 对于全部场追迹仿真,使用了Modeling Level 1,因此忽略了理想平面波截断的衍射效应。 hg Pzx@  
    *w,C5 f  
    ww#]i&6  
    .sBwJZ  
    半透明板(分束器)设置 Q XLHQ_V  
    e4mAKB s!  
    EZb_8<DH  
    (Rs052m1  
    通常,具有不同反射率值的部分透明板用于分束,因为能量分裂越平衡,干涉条纹的对比度就越好。 L<H zPg  
    $z \H*  
    系统构建模块 – 光路 #1 ~Kiu " g  
    T6^ H%;G  
    !E.CpfaC  
    kC8M2|L  
    光穿过半透明板 @0[#XA_>  
    • 测试表面位于物镜的焦点区域。 &|Cd1z#?  
    • 通道+/+ 和-/- 对半透明板的两个表面都是开放的,以允许来自光源的光和从测试表面反射的光通过。 ,C;%AS/  
    #C#*yE  
    ?Jy /]j5fI  
    ,We'A R3X  
    系统构建模块 – 光路 #2 @ CNe)&U  
    0/TP`3$X#"  
    j[Z<|Da  
    `&w{-om\  
    半透明板反射的光 `x:8m?q05  
    • 对于分束器的反射光路, Rn9e#_Az  
    +/- 通道必须被激活。 \6L,jSoBl  
    :N#8|;J1Fl  
    E E^l w61  
    peD7X:K\s  
    系统构建模块 - 测试和参考表面 OYLg-S  
    A(}D76o_  
    G;he:Bf  
    5=hMTztf!!  
    • 在这个仿真中,参考和测试表面是 Boj#r ,x  
    以理想镜子为模型。 5[0W+W  
    (这就是为什么半透明板的最佳分光比是 50:50,这在 15.5 nm 银涂层的情况下大约可以实现。) kA4bv}  
    @O9wit.  
    • 将真实样品放置在测试表面上,通过沿轴向扫描 Mirau 干涉仪,可以使用不同的干涉图案来计算高度。 }/J<#}t  
    YMr2Dv\y  
    • 参考表面的尺寸应该足够小以避免中心遮挡,但要大于焦点的尺寸。 4`zK`bRcK#  
    Lc! t  
    仿真结果 - 干涉条纹 &1Cif$Y4w  
    f~ P~%  
    !$pnE:K  
    0@>  
    • Mirau 干涉仪三个不同位置的边缘如下图所示。 - jWXE  
    • 干涉条纹受测试表面离焦多远的影响。较大的散焦值会在测试路径中引入更强的球面相位变化,从而导致更密集的干涉条纹。 )z!#8s  
    k<A|+![  
    y"Ios:v@-  
    2OZ<t@\OY  
    文件信息 'BX U '  
    +N2R'Phv  
    E++3GagdiD  
     
    分享到