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    [技术]基础Mirau干涉仪的仿真 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-25
    摘要 '?m2|9~  
    ~.G$0IJY  
    如何在 VirtualLab Fusion 中设置 Mirau 干涉仪? 本用例通过非顺序通道配置和基本功能仿真演示了建模过程,并评估了来自不同测试表面位置的典型离焦条纹。 aqk$4IG  
    #m UQ@X@K  
    b"#S92R+  
    ;Q q_  
    任务描述:Mirau 干涉仪示意图 W //+[  
    w[l#0ZZ  
    !nJl.Y$  
    A)!W VT&2A  
    系统构建模块和光路 kq(><T  
    i Pr(X  
    }OnU32P  
    ,0AS&xs$  
    普通 Mirau 干涉仪的基本组成部分是显微镜物镜、参考面(反射镜)、半透明光学元件(分束器)和实际测试对象。 xjnAK!sD  
    光源探测器有两条主要路径: 2uT6M%OC  
    1. 一束光束通过分束器,然后被测试表面反射并一路返回探测器。 t>%b[(a  
    2. 另一束光束被分束器反射,聚焦在参考表面上,在此被镜像,再次被分束器反射,然后通过显微镜物镜返回到探测器。 3}phg  
    通过使用手动通道配置模式,无需依次设置这两个光路(这也可以在一个光学设置中实现)。 z8S]FpM6  
    `EMGrw_  
    理想化和通道控制 d)biMI}<5  
    r6Vw!^]8u8  
    仿真的好处是可以专注于系统相关的部分并可以减少其他任意影响。 '^WR5P<8c  
    0&| M/  
    1. 显微镜物镜是用理想透镜仿真的。 60%fva  
    2. 对于半透明板(分束器),是一个平面平行板由熔融石英在其第一表面上使用 15.5 nm 银涂层制作的。 g%]<sRl:-  
    为了忽略第二个表面上的背反射,我们使用 VirtualLab的手动通道配置来关闭这些光部分。 这样就不需要对减反射 (AR) 涂层进行单独建模。 aw lq/  
    3. 实际上,小参考面附在透明板上。 在这里,我们只需为“飘浮的”理想平面镜建模。 Jpp-3i.F#  
    4. 对于全部场追迹仿真,使用了Modeling Level 1,因此忽略了理想平面波截断的衍射效应。 ,%x2SyA  
    %nq<nfDT  
    ,Js_d  
    %YF /=l  
    半透明板(分束器)设置 yp=sL' E  
    ?(B}w*G~  
    Gl w|*{$  
    $4ZV(j]  
    通常,具有不同反射率值的部分透明板用于分束,因为能量分裂越平衡,干涉条纹的对比度就越好。 MTl @#M  
    =bJ$>Djp  
    系统构建模块 – 光路 #1 O,^s)>c  
    Oz_CEMcy  
    AIQ {^:  
    ^fd*KM  
    光穿过半透明板 =z9,=rR4  
    • 测试表面位于物镜的焦点区域。 U,yZ.1V^:  
    • 通道+/+ 和-/- 对半透明板的两个表面都是开放的,以允许来自光源的光和从测试表面反射的光通过。 6 mLC{X[  
    mP15PZ  
    D1>*ml  
    &u[F)|  
    系统构建模块 – 光路 #2 >a2[P"   
    ~MB)}!S:  
    5lzbg   
    DtGkhq;  
    半透明板反射的光 |SMigSu r`  
    • 对于分束器的反射光路, OraT$lV)_  
    +/- 通道必须被激活。 |mWSS'7fI  
    >zJkG9a  
    =M@)q y  
    " @ ""  
    系统构建模块 - 测试和参考表面 mqJD+ K  
    Xu_1r8-|=b  
    .*YOyK3H  
    }>y~P~`S:  
    • 在这个仿真中,参考和测试表面是 J'=s25OWU  
    以理想镜子为模型。 MMaS  
    (这就是为什么半透明板的最佳分光比是 50:50,这在 15.5 nm 银涂层的情况下大约可以实现。) ]CS N7Q+l  
    d@JavcR  
    • 将真实样品放置在测试表面上,通过沿轴向扫描 Mirau 干涉仪,可以使用不同的干涉图案来计算高度。 ~PF,[$?4n  
    l1 08.ao  
    • 参考表面的尺寸应该足够小以避免中心遮挡,但要大于焦点的尺寸。 zTG1 0  
    3#udz C  
    仿真结果 - 干涉条纹 PeEaF@#k  
    c??m9=OX1  
    ;VCFDE{K=  
    *Y53b Z  
    • Mirau 干涉仪三个不同位置的边缘如下图所示。 ZZ!6O/M  
    • 干涉条纹受测试表面离焦多远的影响。较大的散焦值会在测试路径中引入更强的球面相位变化,从而导致更密集的干涉条纹。 Eqny'44  
    {t0!N]'  
    v/]xdP^Z  
    #|:q"l9  
    文件信息 yl' IL#n]r  
    BgCEv"G5  
    1T~`$zS7  
     
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