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    [技术]基础Mirau干涉仪的仿真 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-25
    摘要 5@ %$M$E  
    X#EMmB!  
    如何在 VirtualLab Fusion 中设置 Mirau 干涉仪? 本用例通过非顺序通道配置和基本功能仿真演示了建模过程,并评估了来自不同测试表面位置的典型离焦条纹。 ['~3"lK^O  
    )^qM%k8  
    .__XOd} K  
    |F=!0Id<  
    任务描述:Mirau 干涉仪示意图 "T=Z/@Vy  
    P(l$5x]g,  
    !g  #  
    {pH{SRM)B  
    系统构建模块和光路 (0/,R  
    (#k>cA(}  
    4w\ r `@  
    $sTbFY  
    普通 Mirau 干涉仪的基本组成部分是显微镜物镜、参考面(反射镜)、半透明光学元件(分束器)和实际测试对象。 Dt%G v0  
    从光源到探测器有两条主要路径: !8lG"l|,l  
    1. 一束光束通过分束器,然后被测试表面反射并一路返回探测器。 z#ab V1 Xi  
    2. 另一束光束被分束器反射,聚焦在参考表面上,在此被镜像,再次被分束器反射,然后通过显微镜物镜返回到探测器。 9t:F![rg  
    通过使用手动通道配置模式,无需依次设置这两个光路(这也可以在一个光学设置中实现)。 twv|,kM  
    2&MIt(\-  
    理想化和通道控制 )_k"_VVcC  
    UbNA|`H  
    仿真的好处是可以专注于系统相关的部分并可以减少其他任意影响。 ROlef;/A  
     J -tOO  
    1. 显微镜物镜是用理想透镜仿真的。 <o@&I " o  
    2. 对于半透明板(分束器),是一个平面平行板由熔融石英在其第一表面上使用 15.5 nm 银涂层制作的。 >Akrbmh5  
    为了忽略第二个表面上的背反射,我们使用 VirtualLab的手动通道配置来关闭这些光部分。 这样就不需要对减反射 (AR) 涂层进行单独建模。 R4"*<%1  
    3. 实际上,小参考面附在透明板上。 在这里,我们只需为“飘浮的”理想平面镜建模。 4[m})X2(  
    4. 对于全部场追迹仿真,使用了Modeling Level 1,因此忽略了理想平面波截断的衍射效应。 >L\$  
    7|%|w  
    !m"LIa#/Cs  
    ;\ ^'}S|3Z  
    半透明板(分束器)设置 B~+3<#B  
    I,TJV)B  
    C))5,aX  
    ~A@T_ *0  
    通常,具有不同反射率值的部分透明板用于分束,因为能量分裂越平衡,干涉条纹的对比度就越好。 }<R,)ZV^G  
    8XJg  
    系统构建模块 – 光路 #1 Z/-9G  
    rQmDpoy=  
    I@Cq<:+(3  
    0U|t@&q  
    光穿过半透明板 1(%9)).K  
    • 测试表面位于物镜的焦点区域。 L7i2is  
    • 通道+/+ 和-/- 对半透明板的两个表面都是开放的,以允许来自光源的光和从测试表面反射的光通过。 V`P8oIOh]  
    .5L|(B=H  
    g)0>J  
    ?*DM|hzOi  
    系统构建模块 – 光路 #2 H<_BnT #  
    kw)( "SQ  
    ],`xd_=]=  
    U*sjv6*T  
    半透明板反射的光 Lx%*IE|c  
    • 对于分束器的反射光路, F1_s%&  
    +/- 通道必须被激活。 :j(e+A1@  
    a8 X}r.  
    d}D%%noIu  
    I=aoP}_  
    系统构建模块 - 测试和参考表面 k=]#)A(#C  
    {!RDb'Zp  
    hcn $uyP  
    /x%h@Cn!  
    • 在这个仿真中,参考和测试表面是 rA+UftC:p6  
    以理想镜子为模型。 s!k7Wwj  
    (这就是为什么半透明板的最佳分光比是 50:50,这在 15.5 nm 银涂层的情况下大约可以实现。) ))T@U?r  
    ]MD,{T9l\>  
    • 将真实样品放置在测试表面上,通过沿轴向扫描 Mirau 干涉仪,可以使用不同的干涉图案来计算高度。 q+iG:B/Z  
    @jL](Mq|]  
    • 参考表面的尺寸应该足够小以避免中心遮挡,但要大于焦点的尺寸。 SjosbdD  
    vEy0DHEE  
    仿真结果 - 干涉条纹 Wd`*<+t]  
    I+oe{#:.  
    ( p(/  
    cI Sugk~  
    • Mirau 干涉仪三个不同位置的边缘如下图所示。 }K .Rv(m  
    • 干涉条纹受测试表面离焦多远的影响。较大的散焦值会在测试路径中引入更强的球面相位变化,从而导致更密集的干涉条纹。 5!QT }Um  
    5)5$h]Nz>  
    BiY-u/bH9a  
    4nsc`Hu  
    文件信息 sKy3('5;  
    ]I,(^Xq3a(  
    1NAGGr00  
     
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