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摘要 w74)kIi 3;fuz Kk@b 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 l| 1O9I0Gd *}BaO*A vZEeb j Fa 建模任务 SplEY!.k p3?!}VM!y oK cgP
B8Ob~? 63hOK 准直系统 6{2LV&T=u &,?bX]) ~G0\57;h R"Ol'y{ 非序列追迹 J*)Vpk j$Ttoo
QbGc 9MM 6=V&3|" 总结—元件… (1.E9+MquU &Nf10%J'< 7^Y "K =-#>NlB$w
J%|!KQl _g+^ jR4 系统光线追迹结果 L_f u<W oK;.|ja U68o"iE /jJi`'{U 完美的减反射(AR)涂层 Uloa]X=Im8 j{)_&|^{ $[zy|Y( ,xA`Fu9^ 有内部反射 md`PRZzj@ @4h{#
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