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摘要 [Q\(kd*4 A0,e3gb 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ]m7x&N2 Sqyju3Yp ,rF!o_7 9'e<{mlM 建模任务 O(9*VoD @?;)x&<8?3 lDF7~N9J_
rhX?\_7o tA,J~|+f: 准直系统 Sfp-ns32%A fZLAZMrM ts("(zI1E (ip3{d{CT] 非序列追迹 ,U+>Q!$`\^ 1'iQlnMO@
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f^F"e'1 y\[* mgl: 系统光线追迹结果 84i0h$ZZo 4L4u< =W2I0nr. a<>cbP 完美的减反射(AR)涂层 9C7HL;MF g[~J107%A %qqeL 'z)cieFKP 有内部反射 @`Dh7Q +Jn\`4/J:
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