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摘要 /`VrV{\/! .qD=u1{p9 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Dio9'&DtC `z~L0h $Eh:m&hq ;noZmPa 建模任务 KxUO=v<u @D7/u88| 8Y&_X0T|
08F~6e6a8 j5V{,lf 准直系统 1y7FvD~ v C[Nh>V7= Fd1jElt 23*OuY 非序列追迹 Be~In~~ RAAu3QKu
#Z1
<lAy `i{p6-U3 总结—元件… pfF2!`7pI _8&a%?R@W (;cvLop C jZIBMGc
Bf8[(oc~ '-M9v3itC 系统光线追迹结果 U}^`R,C yL"UBe}v :XCRKRDLE @\|Fd) 完美的减反射(AR)涂层 cs0rz= ZdH ak$D1#hY )kvrQ6 @ *n oma 有内部反射 UthM?g^
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