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摘要 BhdJ/C^ L6 hTz' 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 w(.k6:e Et`z7Q*e 0[9A* v0=^Hym 建模任务 ~{U~9v^v( MH!'g7iK8 \t^q@}~0Wz
lh8`.sWk4V oD~VK,. 准直系统
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t0?4 d 1 ljgq]($ 非序列追迹 !cp
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G~u94rw|: &``;1/J*W 系统光线追迹结果 N7}.9%EV }& `# 0(:"q!h |2{y'?, 完美的减反射(AR)涂层 M,q'
c%Kv"Z%f C!RxMccTh s 6vsV 有内部反射 XSn^$$S sT'wps 2
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