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摘要 rLsY_7! ~_fc=^o 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 R iLl\S# p^pd7)sBr %JM$] k|/VNV( =0 建模任务 ij$NTY=u ;k!.ey$S #<xFO^TB
+MX~1RU+ pG#tMec 准直系统 G'\[dwD,u ^3dc#5]Xf pTCD1) @D;K&:~|N 非序列追迹 IU8zidn& $VmV>NZ
6Cy Byj& |HycBTN#E 总结—元件… VeWh9:"bJ Z?+ )ox zIF1A*UH p6- //0qb
2H`r:x<Z- :zU4K=kR 系统光线追迹结果 #`_W?-%^ nk|(cyt) R|RGoGE6g jA,y.(mR 完美的减反射(AR)涂层 a?y ucA ._0$#J S[ `:iMGqZN l -XfUjJ 有内部反射 :rr<#F %g7j7$c
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