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摘要 Fp4?/-] Y<3s_ 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 qyl~*r* /k<*!H]KSg % \N.m/5 bL_s[-7 建模任务 T'i9_V{ ,]Yjo>`tW K4SR`Q
hJ4==ILx JfKhYRl 准直系统 asP>(Li a8M.EFa: mkYM/*qyM& ;Fcdjy 非序列追迹 KQi9qj [UNfft=K3P
mmY~V:,Kd ({D.oS 总结—元件… i051qpj %_M B- qA9*t L6BHh_*E
iJ42` 51 GK/a^[f+'l 系统光线追迹结果 \s&w0V`Y M7yJ2u <Ty @SPmb o X X{:$f+ 完美的减反射(AR)涂层 n$y1k D `@ qSDW!b <y*#[:i /.'1i4Xa1P 有内部反射 8v1asFxs. 5gF}7D@
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