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摘要 &8IBf8 9p_?t'&>q 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Nm)3 bQ*yXJ^8
'|H+5# }aWy#Oe 建模任务 Q[OwP [8QK @5[ YZ~MByu
G)vNMl f:-)S8OJ 准直系统 /pMOinuO f-~Y ` o)KG, ztVTXI%Kz 非序列追迹 o\8?CNm1( _=g&^_ #t
}UyQGRZ= ZSf &M 总结—元件… MCN>3/81 )n&hO_c/ D!`;v Z\> rC8p!e.yL
JxIJxhA> O3 sV) 系统光线追迹结果 u99a"+ Z6I|Y5#H uj.i(Us W
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