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摘要 ld 1[Usaq [
<k&]Kv 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 A6 L;+e)I] %|j`;gYV %e|UA-( 建模任务 `49!di[ T
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Z^mQb2e. l\d[S] 准直系统 |W&K@g$ aQzmobleep t~!ag#3['. :R$v7{1 非序列追迹 s:z ]+tO
&?}h)U#: u9]M3> 总结—元件… Gvr>n@n U<'z,Px6 0TiDQ4}i[ GpR,n2
'[HU!8F ^?0?* 系统光线追迹结果 l^$U~OB8k v^[!NygShs twa H20 ~i>'3j0@k 完美的减反射(AR)涂层 [g+WL\1 W4h ]4X cwQ*P$n @]EdUzzKq 有内部反射 2{g&9 u(ETc*D]
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