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摘要 Ia:puks= 7Sq{A@ET 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 $'{`i5XB #'J7Wy 4Olv8nOe< *1S.9L 建模任务 lv_% aDvO(C ,xe@G)a
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准直系统 pjs9b%. ?WtG|w ^O Xr: P I+j|'=M 非序列追迹 >c\v&k>6. f(s3TLM
V& j.>Y 4[CBW 总结—元件… |U$de2LF O-!fOdX8_k d7tD|[(J kPX2e h
f'`nx;@X Xt,,AGm} 系统光线追迹结果 Kg TGxCH A;WwS?fyQ e(; `9T /$Tl# 完美的减反射(AR)涂层 yK%GsCJd: #C,f/PXfaB Y0u'@l_[F tC@zM.v% 有内部反射 R|)2Dg r0g/ :lJi
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