切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 254阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7056
    光币
    29425
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-15
    摘要 '(9YB9 i  
    &l!$Sw-u;  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    Y2vj}9jK  
    Sf5]=F-w  
    5vGioO  
    |B|@GF?:  
    建模任务 y$h"ty{g  
    rys<-i(  
    As}eUm)B5c  
    y1Z1=U*!  
    V#H8d_V  
    准直系统 n'3u] ~7^  
    Xv*}1PZH  
    {|p"; uJ  
    l qXc  
    序列追迹 [edH%S}\  
    M4H"].Zm  
    y*(_\\  
    OgTSx  
    总结—元件 kXCY))vnn  
    2mLUdx~c  
    1 Xa+%n9  
    `;}H%  
    vh{9'vd3el  
    pzAoq)gg:  
    系统光线追迹结果 l-MxLcz  
    F1\`l{B,\  
    km}MqBQl  
    2J&XNV^tJ  
    完美的减反射(AR)涂层 t,1in4sN  
    hLSTSD}  
    5<^'Cy  
    (>mi!:  
    有内部反射 pIvfmIm  
    v*vn<nPAQ>  
    H)`@2~Y  
    [Ek42%  
     
    分享到