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摘要 '(9YB9 i &l!$Sw-u; 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Y2vj}9jK Sf5]=F-w 5vGioO |B|@GF?: 建模任务 y$h"ty{g rys<-i( As}eUm)B5c
y1Z1=U*! V#H8d_V 准直系统 n'3u ]~7^ Xv*}1PZH {|p"; uJ l qXc 非序列追迹 [edH%S}\ M4H"].Zm
y*(_\\ OgTSx 总结—元件… kXCY))vnn 2mLUdx~c 1 Xa+%n9 `;}H%
vh{9'vd3el pzAoq)gg: 系统光线追迹结果 l-MxLcz F1\`l{B,\ km}MqBQl 2J&XNV^tJ 完美的减反射(AR)涂层 t,1in4sN hLSTSD} 5<^'Cy (>mi!: 有内部反射 pIvfmIm v*vn<nPAQ>
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