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    [求助]新人镀膜问题求教 [复制链接]

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    在线剑雨剑芒
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 03-29
    楼主是去年8月份接触光学镀膜行业的,从刚开始什么也不懂,到现在对镀膜设备工艺有了一定的初步认识,年前在这里注册了账号,潜水看以往的帖子进行学习。 -f["1-A  
    现在工作中遇到几个问题,想问下求助大家(使用磁控溅射,镀膜材料是NB2O5和SIO2) eh}|Wd7J  
    1.我们生产AR有两种膜系,一个总膜厚在240nm左右,另一个总膜厚在260nm左右。都是7层。我们修组系数后产品打样测得离散数据和240nm E8L\3V4  
    的膜系就是曲线趋势对的上的,而260nm膜系的产品打样就对不上,这是因为修组系数时镀的单层膜厚有关吗? m= rMx]k  
    2.设备镀膜的氩气和氧气的最佳配比该如何找? OV|n/~  
    3.我们真空计是成都睿宝的,电离规的玻璃规管在网上买到后货不对板,不是成都睿宝的,这个能用吗? 2=7:6Fw  
    '&/~Sh$%  
     
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    在线剑雨剑芒
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    只看该作者 9楼 发表于: 4小时前
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    ouyuu:真空度太差了,一般镀膜应该-2左右,蒸镀要控制在1.5E-2Pa以下。真空度差的话射频容易打火 (2026-04-21 18:16)  3xgU=@!;  
    hqV_MeHv'  
    我们设备设定的镀膜真空是0.008pa,到达该真空通Ar和O2后,真空就到了0.3-0.5pa。
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    只看该作者 8楼 发表于: 昨天 18:16
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    剑雨剑芒:我们设备镀膜时真空度大概在0.3到0.5pa左右。 (2026-04-20 15:17)  KOoV'YSC[(  
    @LSX@V   
    真空度太差了,一般镀膜应该-2左右,蒸镀要控制在1.5E-2Pa以下。真空度差的话射频容易打火
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    只看该作者 7楼 发表于: 前天 15:17
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    ouyuu:记录一下各材料镀膜时候的真空度,和之前的记录比较一下。看看是不是差异很大。 "KSdC8MS  
    如果以前的镀膜记录还保留的话,看看以前的充气量和真空度,和现在的比较一下。 (2026-04-07 23:12)  `:jF%3ks+0  
    Lr(JnS  
    我们设备镀膜时真空度大概在0.3到0.5pa左右。
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    只看该作者 6楼 发表于: 04-07
    记录一下各材料镀膜时候的真空度,和之前的记录比较一下。看看是不是差异很大。 7]i6 Gk  
    如果以前的镀膜记录还保留的话,看看以前的充气量和真空度,和现在的比较一下。
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    只看该作者 5楼 发表于: 04-07
    应该说是充气多了,真空度差了,溅射出来材料的量就少了。 " BLJh)i  
    这个只能是做真空保养。或者你们调整一下氧气充气的出气口位置看看。 KTAQ6k  
    也许是因为出气口位置不好造成的充气不足(氧不够造成的吸收)。
    在线剑雨剑芒
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    只看该作者 4楼 发表于: 04-06
    回 ouyuu 的帖子
    ouyuu:刚刚发现你用的是磁控溅射。 ~&+a.@T  
    Ar不是反应气体,Ar是用来轰击靶材,让靶材的材料溅射出来。 `0MQL@B  
    O2是反应气体,是让靶材的材料发生氧化反应,变成氧化物。 I[w5V;>*  
    这个没有什么最佳配比,如果有问题,应该是你抽真空系统需要保养了。(抽速慢了) 2vb qz  
    ....... (2026-04-03 19:16)  .M ID)PY-  
    x3.,zfWs  
    是的,镀硅和铌的气体比例是不一样的,刚开始生产时镀膜的气体比例在流量计上设置为 '$J M2 u  
    硅  Ar 190   O2  110      铌   Ar 200  O2  80 FJxb!- 0&  
    但是我们这样配比镀出来的产品时不时有吸收,玻璃盖板摞在一起颜色发黑,550单波段测试透过率在93%或92%。然后更改为现在的 nHp(,'R/  
    硅  Ar 190   O2  120      铌   Ar 200  O2  100 Ttp%U8-LJR  
    现在做起来没有吸收了,但是感觉速度变慢了些。 ]KG.-o30  
    最近了解到Ar充气多少影响分子的平均自由程从而影响镀膜速率,所以就想深入问下这方面的调试经验。
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    只看该作者 3楼 发表于: 04-03
    回 剑雨剑芒 的帖子
    剑雨剑芒:好的,感谢指导。 (2026-04-01 19:37)  XV`8Vb  
    oJ/=&c  
    刚刚发现你用的是磁控溅射。 OK47Q{.gh  
    Ar不是反应气体,Ar是用来轰击靶材,让靶材的材料溅射出来。 J |UFuD  
    O2是反应气体,是让靶材的材料发生氧化反应,变成氧化物。 oEj$xm_}  
    这个没有什么最佳配比,如果有问题,应该是你抽真空系统需要保养了。(抽速慢了) GMoz$c6n_  
    +ef>ek  
    磁控溅射照理来讲膜厚还是比较好控制的,有问题不一定是膜厚控制的问题。 +Z"[2Dm  
    你们不同膜层的氧气氩气变化大吗?会不会是真空度变化或者是气流波动造成的?
    在线剑雨剑芒
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    只看该作者 2楼 发表于: 04-01
    回 ouyuu 的帖子
    ouyuu:对不上有可能是薄层(敏感层)的问题。 yF+mJ >kj  
    薄层的折射率是个大问题,特别是你用离子源的情况下。 I#7H)^us  
    2是工艺和经验问题,这个自己试吧。 0(&Rm R  
    3不知道 s%6L94\t  
     (2026-04-01 19:18)  ocp  
    IH5^M74b  
    好的,感谢指导。
    离线ouyuu
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    只看该作者 1楼 发表于: 04-01
    对不上有可能是薄层(敏感层)的问题。 T eu.i   
    薄层的折射率是个大问题,特别是你用离子源的情况下。 G9K& }_,  
    2是工艺和经验问题,这个自己试吧。 K5??WB63B  
    3不知道 Ea0EG>Y