摘要 CS:"F) at CM ; r\,o 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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$6BD6\@ .A: #l? 任务描述 {x3"/sF
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D[.;-4"_ X 8TwMt VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 e 1W9Z $m
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#6])\ _N4G[jQLJ VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 H
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_m;#+`E 1^G*)Qn5Df 可编程参数运行 WU:~T.Su
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D^(Nijl9U }L.xt88 可编程参数运行选项 fc'NU(70c
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Fdgu=qMm 3`ov?T(H 分布类型 %P!6cyQS
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Tw:j}ERq J2X;=X5 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
\,YF['Qq 3I87|5V,Z 效率的统计分布 ]>E)0<t
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_*d8:|qw un{LwZH 光栅公差 \>Y2I 4x< i%jti6z$Hr
u:~2:3B ?:D#\4=US 最低效率的级次效率 *]<M%q!<6
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|@sw4 随机分布类型 RR,gC"cTi
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~>h_#sIBC {Kn:>l$*7 文件信息 )%8 ;C]G;
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vM_UF{a$= FsZW, 延伸阅读 wc&%icF*cr - 参数运行文档的使用方法
c&!EsMsU - 光栅级次分析器