摘要 0V!l,pg    M5trNSL&u  在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
 2m~V{mUT!   dqX;#H}h   sIv)'    )nd\7|5#  任务描述 A Z{^o4<q
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 UQ.7>Ug+8s    +GAf O0   VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 QL$S4	J"
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 8x[YZ@iM-    aBzszp]l+  VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 P(a.iu5
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 y8\S}E0    tM#lFmdd\P  可编程参数运行 `4 y]Z)
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72    e9E\% p  可编程参数运行选项 _aPh(qprc
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 A4QcQ"    &ciN@nJ|$z  分布类型 9V.u-^o&
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<@    ]LZ`LL'#Y_
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<@    ]LZ`LL'#Y_  在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
 Hp|}~xjn    j.:h5Y^N  效率的统计分布 J/6`oh?,Q  
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 !7d*v3)d     !SKV!xH9  光栅公差 =KT7nl   UgN28YrW
 !7d*v3)d     !SKV!xH9  光栅公差 =KT7nl   UgN28YrW   x^*1gv	$o    1w"8~Z:UXV  最低效率的级次效率 	_U{&@}3
 x^*1gv	$o    1w"8~Z:UXV  最低效率的级次效率 	_U{&@}3
  
 Y[SU&LM  
 fKtV'/X;Q    p*l$Wj  随机分布类型 <*EZ@XoN>
 fKtV'/X;Q    p*l$Wj  随机分布类型 <*EZ@XoN>  
 4"=Vq5  
 /1`cRyS    |7@O($ b  文件信息 xE-7P|2
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 ~3RC>8*Qw    6/ `.(fL1  延伸阅读 PNeh#PI6)
 ~3RC>8*Qw    6/ `.(fL1  延伸阅读 PNeh#PI6)  - 参数运行文档的使用方法
 \x>65;  - 光栅级次分析器