摘要 v`G}sgn MZxU)QW1 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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IO]tO[P# 0)7v_|z VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 #p]V?
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B&<5VjZ\ ^:mKTiA- 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
Xwjm T G2 V$8lh 效率的统计分布 EwgNd Gcj
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s{{8!Q &;p}HL, 光栅公差 5w{U/v$Z q?)5yukeF
b$_qG6)IJO j9GKz1 最低效率的级次效率 .*xO/pn
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.F2"tt?' 9`5.0** 随机分布类型 v6| [p
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-nX{&Z3-s Z#[%JUYp' 延伸阅读 G`&P|xYg - 参数运行文档的使用方法
oHp"\Z& - 光栅级次分析器