摘要 X3{1DY3@u MuV0;K\ 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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$sF#Na4^ qYZ7Zt; 任务描述 sLdUrD%
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yVHlT qMES<UL> VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 NcBe|qxQ
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|4.o$*0Y KM}4^Qc VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 `.(S#!gw
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'0')6zW5s }u_EXP8M 可编程参数运行 w2N3+Tkg
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4Sstg57x~ 8;g.3Qv 可编程参数运行选项 7Sz'vyiz
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r@[VY g~ YD46Z~$ 分布类型 MIlCUk
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b^,Mw8KsO =HV-8C] 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
_lPl)8k 2r}uE\GN 效率的统计分布 s>@#9psm
U++~3e@l
I0w@S7 rw8J:?0x 光栅公差 j&[.2PW\ q"+ q
HM@}!6/s 52MCU l 最低效率的级次效率 a|P~LMPM
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X}j'L&{F@ }.MoDR3\ 随机分布类型 adO!Gs9f?
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1R2o6`_ LPapD@Z 文件信息 &=z1$ih>2\
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yxC Ml. uZ/7t(fy 延伸阅读 loeLj4"" - 参数运行文档的使用方法
t ?9;cS4 - 光栅级次分析器