摘要 =EKJ!{ L2qF@!Yy= 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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[Z0e$ Vr*t~M> VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 Lh}he:k+
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g5E]o) p})&Zl)V 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
8.,PgS 2d._X$fx7 效率的统计分布 4=9F1[
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{\V)bizY; 8[DD=[& 光栅公差 dw&Xg_$ alG}Aw#gS
;#;X@BhS |9y&;3 最低效率的级次效率 rN}^^9
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;02lmpBj 8]Pf:_e,+ 随机分布类型 3] !(^N>V
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>$?Z&7Lv EgY]U1{ 文件信息 #NqA5QR
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$exu}% A$5T3j' 延伸阅读 /`1zkBj<& - 参数运行文档的使用方法
$]Q_x? - 光栅级次分析器