大家好, dPwe.:
我用反推法求nk >Ip>x!wi
1。我先用TFC模拟镀单层膜TIO2,参考波长700nm,5个peak,然后将模拟出来的T保存起来, cVv+,l4V0
2。将模拟出来的T值当作实际镀膜后的测量值,并将这些T值带入到formula算法要的测量值中。 Adp:O"-H1o
3。虽然选用不同的公式,甚至K值(取K=0)和膜厚(D=375.86nm)都有取过第一步模拟时的值,但模拟出来的值始终都有很大的偏差(15%以上)。????????? =PWh,lWS
4.我记得曾经有一次有取K值(取K=0)和膜厚(D=375.86nm),算出的值比较接近第一步的NK(但其它公式或膜厚估计值时就相差非常大).而这次不管我怎么变都相差很大?????????? D_ybgX?0:
^o}!=aMr
若有大侠知道原因,请指教!!!!! =G2D4>q
u0`~
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