摘要
%>Bko,ET Z>F@n Tzb> 通常可以采用瑞利判据理论表征
显微镜的
分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值
孔径(NA)显微
物镜的分辨率。
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光学系统 [用例]
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分析实际透镜系统的
成像性能
L/?]^!. - 分析高NA物镜聚焦 [用例]
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