摘要 TFc/`
N}bZdE9F
干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 "=f,4Zbj
ku v<
aLevml2:T
0} \;R5a<
建模任务 Iq;a!Lya-
o,1Fzdh6(
ng2yZ @$
IOUzj{G#
元件倾斜引起的干涉条纹 !Je!;mEvI
'\7&I