[分享]Ansys Speos | 将Rayfile光源转换为面光源 [复制链接]

概览 G)(vd0X1  
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本文将讲述如何rayfile转换为面光源，Rayfile光源文件包含有限数量的光线，表面光源有无限量的光线，这使得表面源对于使用逆模拟，得到清晰可视化仿真特别有用。 &3@{?K  
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表面光源均匀地从几何形状表面的每个点发射光，这种简单的方法可以在没有指定光源的早期开发阶段使用。 9A7LDHst7  
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高阶段的表面光源通过使用从rayfile文件光源获取光信息，更准确的以模拟面光源代替rayfile光源，打破rayfile光源内有限光线数对仿真的限制。 E}YJGFB7"  
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下面将在本文中介绍这种转换方法:  xJ&E2Bf  
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步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)光源属性。 K@RE-K6{  
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步骤2:使用先前获取的属性文件再创建表面源。 hggP9I:s,  
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当然为了创建一个表面光源，需要4个元素，获取这些元素数据，可以确保表面光源在近场和远场的正确建模： ls;!Og9  
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Flux光通量：在数据表中查找，或通过初步模拟获取。 5.IX  
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Exitance：一般是常数，或通过初步模拟以辐照度探测器获取XMP文件。 r bfIH":  
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Intensity：数学定义，或通过初步模拟用强度探测器获取XMP文件。 fRt`]o:Om  
Xur{nk~?  
Spectrum：在数据表中查找，或通过初步模拟获取。 6d# 7  
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步骤 (yr<B_Y'MY  
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步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)属性 Ifx EM  
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创建辐Irradiance照度探测器，在LED最后可见表面前面距离处(例如0.1 mm)创建一个辐照度探测器。 N=vb*3ECg  
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对于可见波长，“type”应设置为photometric。 r;7&U<j~Z  
[ Q@rW5,-  
对于UV/IR波长，“type”应设置为radiometric。 +46m~" ]  
2F z;TNS  
lihV!1  
创建Intensity强度探测器，在与辐照度探测器相同的位置创建一个强度探测器。强度探测器“方向”应以90°为起始角的Conoscopic，要获取波长信息以表现光源的打光颜色，“type”应设置为spetral。调整波长设置，以包括所需的波长范围和采样，更高分辨率的采样将得到更准确的转换。 *WQl#JAr  
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qr<+@Q  
运行direct模拟，使用LED的rayfile光源和创建的两个探测器运行直接模拟。模拟的最小光线数应该是rayfile文件中包含的光线数。 aAi"  
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当然根据设计的复杂程度，可能需要大量的光线来精确模拟输出，这样就采用对每个rayfile光线文件重复利用，例如在每个芯片位置的rayfile光源重复三次，这样以便减少rayfile光源对仿真光线数的限制。 I{8sLzA03S  
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步骤2:使用先前获取的属性创建表面光源。 j,Vir"-)  
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使用辐照度和强度结果作为输入创建一个表面光源。这两个输出的XMP结果可以从“SPEOS output files”文件夹中抓取。 SK]"JSY`  
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1. Exitance Z'<I Is:J  
将variable设置为“True”，并选择辐照度结果作为文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。 |<aF)S4  
m"|AD/2;(  
bCSgdK  
2. Intensity aCZ7G %Y  
设置强度类型为“Library”，并选择强度结果作为强度文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。 gm1 7VrC  
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图片:2023100705.png

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3. Spectrum HX`>" ?{  
如果在第一步获取rayfile属性的仿真中，强度探测器类型未设置为“colormetric”或“spectral”，则需要在面光源定义中添加光谱文件，这个频谱文件必须从LED的数据中获取，或者是官方网站下载。 >hFg,5 _l3  
如果在第一步获取rayfile属性的仿真中，强度探测器类型已经设置为“colormetric”或“spectral”，光谱数据已经包含在Intensity中，此时无需再次定义光谱数据。 hgU#2`fS  
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4. 完成rayfile光源到表面光源的定义转化。 S [=l
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拓展应用 O={ ?c1i:  
对于多个光源的定义，可以使用Speos Pattern将创建的光源导入到一组坐标系统中，一次完成对所有光源位置的定义。本文中的表面光源首先需要导出为Speos lightbox，以便在Speos pattern功能中使用。 k3-7Vyg  
d^:(-2l-  
当然可以创建lightfield光场光源，以创建子光学系统的光传输结果，以便在更复杂的光学系统中重复使用子光学系统的结果，以便在计算模拟时减少计算时间。