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摘要 r0 )ne|&Hp r*]pL< |-G2 pu; SI=u-'% 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 @0 /qP<E ;}j(x;l>t 任务说明 marZA'u%B1 P6R_W H#DvCw 3TH?7wi 多重光源 r`.N? P/girce0 ZGDT
6, Rh?bBAn8 螺旋相位板 tw>2<zmSi% avL_>7q JD~;.3$/k Z sTtSM\Ac 探测器插件 dniU{v AoeRoqg m$kQbPlatN Ph1XI&us9 参数运行 L]|mWyzT o[T+/Ej& n+Kv^Y`qxO B+j]C$8} 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: {^
b2nOMv Ch_rV+ Usage of the Parameter Run Document k(l2`I4V uI)twry]@ 非时序建模 DzQBWY]
) AQg|lKv ~vF a\7sf hd(FOKOP 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 YR9fw g4$(%] Channel Setting for Non-Sequential Tracing );\c{QF |4Q*4s 总结 – 组件… %, kP_[!>Q _!R$a- _XV%}Xb' [d6! &)%+DUV| S{rltT- 系统观感 .h7s.p? L^3&
2gPqB*H [|DKBJ $(aq;DR 发射&损耗激光 //U1mDFT aa`(2%(: " B#|C' hm`=wceK 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 kI^*
'=: 2T~cOH;T [@vz0!@s5 3D STED 轮廓 O1J&Lwpk, mll:rWC) xzOa9w/ (+>
2&@@< 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ~#A}=,4> 8Xotly 受激发射损耗效应 {r,Uik-nL {ALEK 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 vk&
gR h:YD$XE AK2Gm-hHK Wwq:\C VirtualLab Fusion 技术 n|w+08c" lLx!_h _FY&XL= ^Xk!wJ 文件信息 nT6y6F_e {ez$kz &S,D;uhF )'_[R@ThB 进一步阅读 $MQ}+*Wr • Simulation of Multiple Light Source in VLF ,ks2&e • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy K p3}A$uV Z/#_Swv 市场图片 iC
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