价格:4500,VIP:4410 SVIP:4275 Ek_&E7
课程共三十节 gx^_bHh
课程简介:
ZvQZD=,F 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。
bf=\ED ^ 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
;7EeR M* 课程大纲:
>TM{2b,(p 1. 软件基础入门
f3n^Sw&Q(Q 软件简介
Jw}&[ 软件计算方法简介
Vt \g9-[ 程序基本框架和全局
参数设置
-hfkF+=U' 程序中使用的各种术语的定义
!-n*]C <+r~?X_ 2. 图表
x4>"m(&% 绘图和制表来表示性能
-K$ugDi 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
i;/;zG^=_ 交互式绘图的使用
J=8Y D"1 3. 材料管理
:-U&_%#w 材料的获取
#@w/S:KbJt 材料的导入与导出
qhG2j; 材料数据平滑与插值
Z_dL@\#| 用包络法推导介质膜的光学常数
%-$
:/N 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
^8bc<c:P 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
]8OmYU%6V 4. 薄膜设计与优化简介
As5l36 优化与合成功能说明
kI04<! 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
k >.U ! 膜层锁定和链接
+A1*e+/b\ 减反膜优化
K$GQc" 高反膜优化
/qwY/^ 滤光片优化
[>_zV.X 斜入射光学薄膜
_qk&W_u 5. 反演工程
iD%a;] 镀膜过程中两种主要的误差(
系统误差和随机误差)
DWx;cP8[ 使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品
IO7gq+ 6. 分析工具
jA2%kX\6// 颜色模型和分析工具
ge%QbU1J 公差工具和良品率预估
dT&u}o3X 灵敏度分析
"Xwsu8~ 7. 附加模块-Vstack
.}eM"Kv 非平行平面镀膜
ToKG;Ff 4b 棱镜镀膜透反吞吐量评估
o(> #}[N} 8. 附加模块-DWDM
wpC.!T 光通信用窄带滤光片
模拟 xT* 3QwK 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
&}C-W*
f,Z 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
lb*;Z7fx<' 镀膜沉积过程噪声信号模拟
0|K<$e6IH 10. 附加模块-Function
\kY:|T 如何在Function中编写脚本
9An\uH)mL 案例:自定义画图
Uc,.. 案例:
太阳能抗反射薄膜分析
J(~1mIJjC 案例:膜厚变化颜色变化