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R2L;bGI*J 1、杂散光分析与控制设计 ZlYPoOq [/td][/tr][tr][td]
;|p$\26S)% 授课时间:2023年6月5日(一)-7日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00
'1fNBH2 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
t%zpNd2lk 课程讲师:讯技光电高级工程师
l JP1XzN_ 课程费用:4800(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)[/td][/tr][tr][td]
课程简介:[/td][/tr][tr][td]
O|A_PyW 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,B S D F与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。[/td][/tr][tr][td][/td][/tr][tr][td]
课程大纲:[/td][/tr][tr][td]
kc'pN&]r: 1. 杂散光介绍与术语 LWsP ya 1.1 杂散光路径
$P7iRM] 1.2 关键面和
照明面
I-]>d;4. 1.3杂光内部和外部杂散光
Q(d9n8 2. 基本辐射度量学-辐射 !J*,)kRN 2.1 B S D F及其散射模型
`u!l3VZ/4 2.2 T IS总散射概念
49Df?sx 2.3 PST(点源透射比)
wfL-oi'5 3. 杂散光分析中的光线追迹 b?4/#&z]
e6X[vc|Y} 3.1 FRED软件光线追迹介绍
.O*bILU 3.2构建杂散光模型
]u-]'P 定义光学和机械几何
22<0DhJ 定义光学属性
m+{K^kr[ 3.3 光线追迹
BYW^/B Y) 使用光线追迹来量化收敛速度
0U/K7sZ 重点采样
=&0wr6 反向光线追迹
>StO.Q99 控制光线Ancestry以增加收敛速度
to8X=80-3 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
OX%MP!#KU 使用GPU来进行追迹
b5m=7;u*h RAM内存使用设置
f\;65k_jq 4.散射模型 rPc7(,o* 4.1来自表面粗糙的散射
S0g'r
!;6 低频、中频、高频
P X;Ed*y 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
2Nxm@B` { 4.3 来自颗粒污染的散射
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