DfV_08
时间地点 AGCqJ8`|T
主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 Z/;rM8[{&
苏州黉论教育咨询有限公司 H7#RL1qM&
授课时间:2023 年 6 月 5 日(一)-7 日(三)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 ":"M/v%F
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 xvp{F9~qT
课程讲师:讯技光电高级工程师 .1|'9@]lj4
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) $j{ynh)^
课程简介 66)@4 3V
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标 s/sH",
准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介 D9H|]W ~
绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论 %F&j B
了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体 PU?kQZU~)
的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC 望 MQ\:/]a
远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现, w=#&(xm0
但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出 sd8o&6
发进行该望远镜系统仿真。 A7|"0*62
课程大纲 ,Z>Rv Ll
1. 杂散光介绍与术语 |.(o4<nx.
1.1 杂散光路径 v
l{hE~
1.2 关键面和照明面 s977k2pp-
1.3 杂光内部和外部杂散光 eIof{#
2. 基本辐射度量学-辐射 >454Yir0Mk
2.1 BSDF 及其散射模型 kmov(V
2.2 TIS 总散射概念2.3 PST(点源透射比) [.<vISRir
3. 杂散光分析中的光线追迹 HSK^vd?_l
3.1 FRED 软件光线追迹介绍 h.2!d0j]
3.2 构建杂散光模型 IUc!nxF#
Sk;IAp#X9
定义光学和机械几何 >%[(C*Cks
O IewG5O
定义光学属性 Mh_jlgE'd#
3.3 光线追迹 8zVXQ!'
v S%+
使用光线追迹来量化收敛速度 f+I*aBQ
*[yCcqN.
重点采样 8<.KWr
T_Y 6AII
反向光线追迹 k9R1E/;
ZibHT:n
控制光线 Ancestry 以增加收敛速度 I}k!i+Yl
zo\XuoZ
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 /;.M$}Z>`
g_n=vO('X
使用 GPU 来进行追迹 L</"m[
`Rm B{qgB
RAM 内存使用设置 89 fT?tT
4.散射模型 JHO9d:{-
4.1 来自表面粗糙的散射 uN`ACc)ESi
,cC4d`
低频、中频、高频 /pb7
cJ[n<hTv
RMS 粗糙度与 BSDF 的关系 UNY>Q7
^`dp!1.+
由 PSD 推导 BSDF 8u+ (+25
>T!n* -Zn
拟合 BSDF 测量数据 <:&w/NjbI
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 A>k+4|f
4.3 来自颗粒污染的散射 Kw?,A
/VJ@`]jhDf
来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) 7<