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测量系统 -~\7ZRP8 应用示例简述 F{7
BY~d 1. 系统说明 Ebi~gGo 光源 Cx(HsJ!, — 氙气灯(部分相干白光) ]>sMu]biH 组件 +U<Ae^V — 分束器和合束器,消色差准直透镜系统,平面反射镜,待测样品 2%fkXH< 探测器 98<^!mwF — 强度分布表现出不同的干涉效应 M5`m5qc3 建模/设计 6w{""K.{ — 光线追迹:初始系统概览 5HvYy
*B/ — 几何场追迹Plus(GFT+): Cd p_niF 部分相干白光会减少干涉条纹的对比度 d]=>U^K 扫描样品的高度轮廓时光强会发生变化 7#*O|t/'
zn*i 2. 系统说明 ;lTgihW- 参考光路 u<j.XPK  T z+Y_ 3. 建模/设计结果 }_Sgor83n X)9|ZF2` )s 1
Ei9J 4. 总结 q> #P| 迈克尔逊干涉仪装置白光干涉图案的研究以及作为高度扫描装置的应用 SnO,-Rg 1. 仿真 ZhoB/TgdL 以光线追迹对干涉仪仿真。 1&kf |