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测量系统 X:nN0p # 应用示例简述 J;8IY= 1. 系统说明 %z,mB$LY 光源
CDK5 — 氙气灯(部分相干白光) l*d(;AR 组件 Ws|j#X< — 分束器和合束器,消色差准直透镜系统,平面反射镜,待测样品 sN9&,&W1 探测器 l)1r+@)\ — 强度分布表现出不同的干涉效应 e#$]Y?, 建模/设计 ;;6uw\6
O — 光线追迹:初始系统概览 -z)n?(pftm — 几何场追迹Plus(GFT+): Y[}>CYO 部分相干白光会减少干涉条纹的对比度 .$+#1- 扫描样品的高度轮廓时光强会发生变化 F%@aB<Nu gG(fQ
89U" 2. 系统说明 P2#XKG 参考光路 i@"@9n~  1mOh{:1u 3. 建模/设计结果 Y5- F@( iTgt}]L JfLqtXF[&" 4. 总结 v$?+MNks 迈克尔逊干涉仪装置白光干涉图案的研究以及作为高度扫描装置的应用 mwHB(7YS, 1. 仿真 jaII r06 以光线追迹对干涉仪仿真。 Vc\MV0lr 2. 计算 chM%]|gey 采用几何场追迹Plus引擎以计算干涉图样。 <Tzrj1"Q3 3. 研究 N8F~8lTi 测绘扫描仪的仿真和样本高度轮廓的测量 96( v Hq:X{)" 利用VirtualLab软件可对迈克尔逊干涉仪生成的干涉图案进行研究分析。 I9_RlAd zPn+V7F 应用示例详细内容 gmw|H?] 系统参数 ]%@M>?Ywc .,<1%-R34q 1. 仿真任务:迈克尔逊干涉仪 5F)C jQ #Z?A2r!1 通过使用这种干涉仪装置,可测量两光束间的相对光程差。 {FeDvhv 4&<oFW\r 事实上,结合白光光源的有限相干长度可以研究样品的高度轮廓(轮廓扫描干涉仪)。 N{9v1`B &Cr: |