切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 192阅读
    • 5回复

    [讨论]求助各位大佬,怎么才能过双85环测? [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线tfcalc68
     
    发帖
    53
    光币
    29
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-17
    用MGF2+H4这两种材料,什么工艺才能过双85环测呀? e!1am%aE  
    目前试过:设定温度320℃,MGF2速率3.0A/S,H4速率1.5A/S,最后镀15nm  SIO2,速率1.5A/S,MGF2打底层,高温高湿脱膜,看上去像是最外层膜脱落 kD_616  
    也试过:320℃,MGF2速率5.0A/S,H4速率3.0A/S,最外层镀10nm金刚膜,MGF2打底层,高温高湿有亚克,太阳辐照脱膜 U#kd cc|  
    用这两种材料能过环测吗?人都麻了
     
    分享到
    离线tfcalc68
    发帖
    53
    光币
    29
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 03-17
    APC充氧流量的多少有什么影响吗?
    离线tfcalc68
    发帖
    53
    光币
    29
    光券
    0
    只看该作者 2楼 发表于: 03-17
    没人给点意见吗?
    发帖
    34
    光币
    26
    光券
    0
    只看该作者 3楼 发表于: 03-22
    上离子源
    离线yzhuang
    发帖
    327
    光币
    3190
    光券
    0
    只看该作者 4楼 发表于: 前天 10:25
    MgF2换成SiO2,损失一些光学性能,换来更好的稳定性。
    离线嘤击长空
    发帖
    45
    光币
    27
    光券
    0
    只看该作者 5楼 发表于: 昨天 01:31
    建议测一下温度,镀膜时基片至少要在270°,起始真空度2.0E-3,H4充氧少一点,6.0E-3左右