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光学测量>光谱仪 @8gEH+r +m/,,+4 任务/系统描述 EW(J5/mn [m2+9MMl flnVYQe rFu ez$ 亮点 L
*Y|ey p^X^1X7 `X8@/wf# 复杂光学系统的高性能分析 REA;x-u* >K:u?YD[ 使用严格算法对光栅进行严格矢量分析 D}{b;Un wda';@y5( 说明:光源 ]QrR1Rg $p$dKH
J^zi2jtV m*n5zi|O 4hAJ!7[A. S; /. % 说明:孔径 h;M3yTM- >K)2NLW\xA C`K^L=8`{
GozPvR^/ 2@Lbfo A 说明:抛物面反射镜 h9CIZU[Nh ZYMw}]#((E a!,r46>$H p/olCmHD) 8<dOMp;}r 说明:光栅 4Z5#F]OA7 .6.^G o"+
i&Wp~ A lwtmDa 说明:探测器 9- )qZ UA-7nb 1oY^]OD]W $8=@R' 结果:3D光线追迹 \N6\v5vh +%#8k9Y
]<trA$ 0 pJ^NA2 结果:波长的变化 xeA#u
J :tj-gDa\Y aMwB>bt 由于波长的变化,入瞳的像可经过探测器孔径进行扫描 &M[f&_"8Q PkUd~c uA~slS
Z g>j| ]6 结果:单色仪的分辨率 (03pJV&K 7$uJ7`e
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