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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 o}z}79Z
2$ = HDwv 关于此用例 @hPbD?)M • 需要以下工具箱 9mZ1 a6,x - 基本工具箱 HL]?CWtGP • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） !$HW UxM;p • 在此处获得免费试用版 &-A 7%" 此用例展示了… % e(,P L • 如何构建GRIN透镜 {ar }.U • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 : nt%z0_ ~MX@-Ff  N8TO"`wdbs GRIN透镜的构建 sYzG_* ) }{"\"Bn_  '`u1,h
WjB [e> GRIN透镜：GRIN介质 bUNp>H>L Jo ^ o`9  8}"j #tDc
 )NK 2uD Bv3v;^ 系统设置：探测器和连接 FW4 hqgE@ · 探测器说明： frt ?*|: − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 ?W(f%/ B# #*~Uu.T  jWz-7BO >*MB_m2| 仿真结果：光线追迹分析 NKRXY~zHh 7>'F=}6[Y  1 /`>Eh 仿真结果：场追迹分析 g7pFO cV F-6*
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 V-31x ) 系统设置：寻找像面 T7v8}_"- k1 <Py$9"
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1 9EU[eb 仿真结果：光线分析和场追迹分析 jL# ak V DuWP)#kg  2:abe C"}x=cK
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