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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 d4t%/ Uh <XiHQ
B! 关于此用例 xDG8C39qrs • 需要以下工具箱 YvL5>; - 基本工具箱 Vb az#I • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) URdCV{@42 • 在此处获得免费试用版 =<MSM\Rb 此用例展示了… FM$XMD0= • 如何构建GRIN透镜 Pp3<K649 • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 WM$}1:O Pky/fF7e @{3$H^ GRIN透镜的构建 b(+M/O>I G?)NDRM 9`]Gosz A-x; ai] GRIN透镜:GRIN介质 | s%--W S#_g/3w 3cfW|J
Vw:.'-Oi T1 >xw4uo 系统设置:探测器和连接 }7&.FV" · 探测器说明: E j` − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 gpDH_!K PKFjM~J cu*8,*FU s:ig;zb 仿真结果:光线追迹分析 0=O(+
yi 1=:=zyEEo + 2v6fan 仿真结果:场追迹分析 ;]!QLO.bs^ {2 l35K=
F|pM$Kd` 系统设置:寻找像面 UgI0
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. 仿真结果:光线分析和场追迹分析 C'$w*^me hS&3D6Gt " E+V>V+ 5"5!\Zo
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