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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 M D1d
P:'y}a- 关于此用例 OB (~zUe.R • 需要以下工具箱 \sVzBHy d - 基本工具箱 =&4eW#{LuH • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） @oh J' • 在此处获得免费试用版 @ *T8> 此用例展示了… [daR) C • 如何构建GRIN透镜 Y\1& Uk • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 [)[?FG9
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{8Cu6  9% P$e=Ui# GRIN透镜的构建 .$G ^c .b*-GWx  pek5P4W_
'HvW&~i( GRIN透镜：GRIN介质 g2r8J0v ?
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 {2|s k9?W P!~&Ei 系统设置：探测器和连接 6l>016 x · 探测器说明： eLN(NSPoS − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 l`K5fk .W-=V zWX  "Jyb?5 # DTBdBh?I 仿真结果：光线追迹分析 "0"8Rp&V| = 6w(9O  5i3 nz=~o 仿真结果：场追迹分析 V SH64 D GAg#jh
 ~65lDFY/ 系统设置：寻找像面 N;,N6&veK/ M^A ;tPw
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$J:~jY/J 仿真结果：光线分析和场追迹分析 l>>, ~ b WZ X  dNs <`2m q/tC/V%@(
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