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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 {$u@6&
B @'NaA SB 关于此用例 (Ay4B*|! • 需要以下工具箱 >gS5[`xRE - 基本工具箱 ]VHdE_7) • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) D/!eov4" • 在此处获得免费试用版 4/mj"PBKL 此用例展示了… q)z1</B- • 如何构建GRIN透镜 v0H>iKh7 • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 l+3%%TV@L !kHyLEV c-3Y SrY GRIN透镜的构建 UmP?}Xw6 nHhD<a! Y+PvL|`O ](
U%1 GRIN透镜:GRIN介质 E%J7jA4 AIRVvW~($ B#Oc8`1Y
!!D:V`F/d R(7X}*@X 系统设置:探测器和连接 ^JF_;~C · 探测器说明: ke;*uS − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 |Z^c#R @gl%A&a \PtC _>:=<xyOq 仿真结果:光线追迹分析 {]/Jk07 v,x%^gv 0 (1r>50Ge 仿真结果:场追迹分析 :0TSOT9. mGyIr kE
GWkJ/EX 系统设置:寻找像面 C{I8Pio{b 7+Jma! o
PB3!; 77=y!SDP 仿真结果:光线分析和场追迹分析 ZZ.0' c402pj
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