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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 A 94:(z;{ cu}(\a 关于此用例 4qDO(YWf • 需要以下工具箱 hd'QMr[; - 基本工具箱 Jk}3c>^D • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) +$ djX=3 • 在此处获得免费试用版 l,Q`;v5| 此用例展示了… U>!TM##1QD • 如何构建GRIN透镜 .a2R2~35 • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 <fBJ@> M/W9"N[ta _hV34:1F GRIN透镜的构建 <FkaH8,7 dY$nw ?3DFm RvA "ug.* GRIN透镜:GRIN介质 ("=q-6$G qh>An;:u `_LQs9J0J
~ a2A"#f c[M4l 系统设置:探测器和连接 0aR.ct% · 探测器说明: :f Rta[ − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 !Usmm8!K 6%t6u3 $ H@
nO6UlY 仿真结果:光线追迹分析 p?Ux1S am5;B`}q =4x6v< 仿真结果:场追迹分析 :twp95{R1 ?-&k?I
"(H%m9K 系统设置:寻找像面 h{HpI
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.3+8Ip#z o}waJN`yI 仿真结果:光线分析和场追迹分析 p79QEIbk= a>#$&&oQ0 u$nmnd`g G1X73qoHT<
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