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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 EeT 69o
rS+) )! 关于此用例 F" M • 需要以下工具箱 >MSK.SNh - 基本工具箱 ) <{u
oH • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） (w u ciKQ • 在此处获得免费试用版 5!cp^[rGL 此用例展示了… >3pT).wH|M • 如何构建GRIN透镜 Tl'wA^~H • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 :WX
OD S3i p?9  1KbZ6Msy GRIN透镜的构建 ^)I}# UCK;?]  @ x!,iT
2K{'F1"RM GRIN透镜：GRIN介质 _ E-\a S{ \HkBp& bqK  @;$cX2
 bJ 2>@|3* 9P)!v.,T/ 系统设置：探测器和连接 +RJKJ :W · 探测器说明： X 6tJ − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 7}y@VO6] K;W QV,  f6yj\qq] WcoA)we 仿真结果：光线追迹分析 &VA^LS@b hc[J,yG  Maq`Or|4 仿真结果：场追迹分析 *4NY"EwjN 0ju-l = w
 [@5cYeW3. 系统设置：寻找像面 8Iu6r}k?~` tgl(*[T2
 'I +S5 A& p@iE*/ <5 }I6R;
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