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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 eI,'7u4q
b :WA}x V 关于此用例 3vXa#f>P< • 需要以下工具箱 h"0)g :\ - 基本工具箱 jOUM+QO • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） dNu?O>= • 在此处获得免费试用版 X9
N4 此用例展示了… ^>Vl@cW0uz • 如何构建GRIN透镜 ^[x6p} $ • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 *8 2+GY] ]l7 r M"  5GK> ~2c( GRIN透镜的构建 vh"wXu @.&KRAZ  ?B+]Ex(\B,
^HhV ?Iqg GRIN透镜：GRIN介质 o 9rZ&Q < oRo[WQla  bv W3[ V
 r2%Qk BOfl hoUX 系统设置：探测器和连接 >,x& L[3 · 探测器说明： l{I.l − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 Sx:JuK@ lY&Sx{ -  6t\0Ui =A cK9?%5 仿真结果：光线追迹分析 M3U?\g ' hDs.Wnu
 +iqzj-e&e[ 仿真结果：场追迹分析 iNs@8<=$T l(Ya,/4
 A("\m>g$b 系统设置：寻找像面 $D='NzE/ p;qFMzyS9
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}Ug$ d>\ 仿真结果：光线分析和场追迹分析 Up1 n0 Tn"@u&P
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