[技术]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

84j6.\,  
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 
O{R)0&  
     aZn]8jC%  
建模任务 "Rr)1x7  
-N $4\yp  
     G8z.JX-7g  
元件倾斜引起的干涉条纹 .)59*'0  
Q=9Ce@[  
元件移位引起的干涉条纹 :d}I`)&  

这个图好像在哪看到过啊